数显卡尺校准方法|卡尺仪器校准|日衡卡尺校准

东莞市日衡检测秉承科学、公正、准确的经营理念，为广大客户朋友提供电磁、无线电、长度、力学、热工、理化等领域的计量校准服务。

日衡检测数显卡尺的校准流程：

1、日衡检测校准技术依据：

JJG30-2012通用卡尺检定规程

JJF1059.1-2012测量不确定度评定与表示

2、日衡检测校准条件及技术要求：

 标准设备与被校数显卡尺需在检定规程所规定的温湿度、大气压条件下放置在平板上平衡温度至少1h。标准设备的准确度等级需高于被校数显卡尺。

3、日衡检测标准设备：

 本公司选用三级***量块、一级平板为标准件校准数显卡尺的各项相关参数。

4、日衡检测校准方法：

 a）外观及功能性检查：被校数显卡尺表面应镀层均匀、尺身清洁、刻度清晰，没有影响校准的外观缺陷。制造厂商、分度值、出厂编号应完整清晰可见。拉开尺身，应手感平稳，无阻滞或松动现象。显示正常无跳动，各按钮及紧固螺钉应功能正常可靠。

 b）误差的校准：拉开、闭合尺身读取零位误差，同条件下重复测量5次，上限误差与下限误差的差值为示值变动性。

取三级量块根据卡尺量程均匀选取3个点进行示值误差的校准，必要时，可根据实际情况增加校准点。卡尺外量爪的里端和外端都需要校准，记录量块的标准值及卡尺对应的示值。静置1小时，观察并记录其飘移值。

c）计算示值误差并判定其是否在允许误差范围内。不同量程的数显卡尺有不同的允许误差，具体参照检定规程的相关规定。